个人简历：

程国峰，理学博士，博士生导师，无机材料X射线衍射结构表征课题组组长。2022年入选中国科学院技术支撑人才。曾先后主持国家自然科学基金、上海市科委基础研究重点等项目，出版《纳米材料的X射线分析》、《二维X射线衍射》、《同步辐射X射线应用技术基础》等编译著4部，发布国家标准、团体标准或企业标准16项，获专利授权7项，在Nat. Mater., J. Appl. Phys.，Mater. Lett.，Ceram. Int.等期刊上发表论文90余篇。现任中国晶体学会粉末衍射专业委员会委员，中国物理学会固体缺陷专业委员会委员、上海市物理学会X射线衍射与同步辐射专业委员会副主任兼秘书长。

主要研究方向:

1. X射线衍射与散射理论及应用

2. X射线吸收成像技术

3. 拉曼光谱学

4. 扫描探针显微术

主要科研成果

近年承担主要项目（限5项）： 

1. 国家自然科学基金青年项目，BiFeO₃反应烧结过程中相变机理的原位X射线衍射研究，2013.1-2015.12

2. 上海市科委基础研究重点项目，碳化硅陶瓷液相烧结机理的超高温原位X射线研究， 2014.7-2017.6

3. 上海市科技创新技术标准项目，氧化锆固体电解质相含量精确测定方法及标准研究,2020.10-2023.9

4. 中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目，电催化析氢反应的原位拉曼结构表征装置开发及应用，2020.10-2021.9

5. 中国科学院技术支撑人才项目，2022.1-2024.12

近年代表性论著（限5项）：

1. 程国峰、杨传铮编著《纳米材料的X射线分析（第二版）》，化学工业出版社， 2019年

2. Guofeng Cheng*, Cuijun Deng, Chengtie Wu,Handi Yin, Yinjie Ruan,Yue Sun,Qiyun Xie, Xiaoshan Wu, Effects of Mn-doping on the Structural Evolution of β-Tricalcium Phosphate by Rietveld Refinement and Raman Spectroscopy，Materials Letters，2019，VOL.235，NO.235

3. Guofeng Cheng*, Yong Zhang*,Handi Yin, Yinjie Ruan,Yue Sun, and Kaili Lin, Effects of strontium substitution on the structural distortion of hydroxyapatite by Rietveld refinement and Raman Spectroscopy，Ceramics International，2019，VOL.45，NO.8

4. Li Zhaoxia, Peng Chunlei, Yin Handi, Ruan Yinjiem Sun Yue, Chen Hangrong, Yang Shiping, Cheng Guofeng*. Effects of Structural Changes on the Enhanced Hydrogen Evolution Reaction for Pd NPs @ 2H-MoS₂ Studied by In-Situ Raman Spectroscopy[J]. Chemical Physics Letters, 2021, 764: 138267.

5. 程国峰主译，《二维X射线衍射》，化学工业出版社， 2021年

近年授权专利（限5项）：

1. 用于变温X射线衍射仪的阻光刀（专利号：ZL201820642085.7，授权日期：2018年11月16日）

2. 一种拉曼光谱变温测试用坩埚（专利号：ZL201820642013.2，授权日期：2018年11月16日）

3. 一种高通量衍射仪或拉曼光谱仪用试样台（专利号：ZL201820641281.2，授权日期：2018年12月14日）

4. 一种衍射仪用长度可调的发散狭缝（专利号：ZL201920568310.1，授权日期：2019年12月17日）

5. 一种制备InSeI单晶体的方法（专利号：ZL202010962172.2，授权日期：2021年7月13日）

近年制定标准（限5项）：

1. 热障ZrO₂涂层晶粒尺寸的测定-谢乐公式法（标准号：GB/T 31568-2015，发布日期：2015年5月日）

2. 氮化硅中α、β相含量测定的X射线衍射法（标准号Q/AKAD 0680-2019，发布日期：2019年10月31日）

3. 氧化锆中单斜相含量测定的X射线衍射法（标准号：Q/AKAD 0681-2019，发布日期：2019年10月31日）

4. 氧化锆中各相含量测定的Rietveld全谱拟合法（标准号：Q/JRI 0011-2021，发布日期：2021年9月13日）

5. 氧化锆固体电解质 相含量的测定 全谱拟合法（标准号：T/SCS 000015—2023 ，发布日期：2023年7月29日）