热电元器件扩散阻挡层的筛选方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

热电元器件扩散阻挡层的筛选方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201710852233.8

申请日期:

第一发明人:

顾明

其他发明人:

柏胜强,吴洁华,夏绪贵,李小亚,吴汀,宋君强,陈立东

专利授权日期:

20200317